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    日本理學ZSX Primus IV上照射波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)

    日本理學ZSX Primus IV波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)具有卓越的性能和分析最復雜樣品的靈活性,具有 30 微米 Be 管窗口,是業內最薄的標準管窗口,具有出色的輕元素(低 Z)檢測限。 優點

    集合所有ZSX系列的優點:雙真空系統,自動真空控制,Mapping/微區分析,超輕元素超強靈敏度和自動芯線清洗等??伸`活分析復雜樣品。

    30μm超薄窗光管,保證輕元素分析靈敏度。

    最先進的Mapping包可以檢測同質性和夾雜物。

    較小的占地面積。

    30 μm超薄窗Mapping。

    He 密封:樣品室一直在真空環境中。

    數字多通道分析儀 (D-MCA) 系統有助于實現高計數率的高速數字處理,從而提高分析精度及效率。


    安全性

    采用上照射設計,再不用擔心污染光路,清理麻煩和增加清理時間等問題。


    ■ 應用領域

    液體、合金和電鍍金屬的元素分析。


    ■ 技術參數

    廣泛的元素分析范圍Be-U。

    占地面積小,節省實驗室空間。

    500μm微觀分析。

    下照射式設計適合液體和松散粉末要樣品。

    30μmX射線管提供卓越的超輕元素性能。

    用于元素分布的Mapping分析。

    氦氣密封是指樣品室始終在真空的條件下。

     


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