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    日本理學ZSX Primus III+上照射連續波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)

    Rigaku ZSX Primus III+ 可快速定量測定各種樣品類型中從氧 (O) 到鈾 (U) 的主要和次要原子元素-使用最少的標準品。 優點

    實現粉末、固體樣品不同元素不同含量的高精度分析。

    高精度定位樣品臺滿足合金分析高精度要求。

    特殊光學系統減少樣品表面不平而引起的誤差。

    樣品室可簡單移出方便清潔。

    操作界面簡潔、自動化程度高。


    安全性

    采用上照射設計,樣品室可簡單移出,再不用擔心污染光路,清理麻煩和增加清理時間等問題。


    ■ 應用領域

    固體、液體、粉末、合金和薄膜的元素分析。


    ■ 技術參數

    元素從BeU的分析。

    上照射式的光學器件使污染問題最小化。

    占地面積小,需要使用的實驗室空間小。

    高精度樣品定位。

    特殊光學元件可減少曲面樣品表面造成的誤差。

    統計過程控制軟件工具(SPC。

    可以根據樣品量自主調節真空。


    上一個:日本理學ZSX Primus 400連續波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF),用于大樣品下一個:日本理學ZSX Primus IV下照射波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)
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