新型合成多層晶體“RX85”產生的強度比現有的 Be-Ka 和 B-Ka 多層晶體高約 30%。

Simultix 15 配備 XRD 通道，可以通過 XRF 和 XRD 進行定量分析。

可選的雙曲面晶體可以配備到固定通道。與單曲面晶體相比，雙曲面晶體的強度增加。

Simultix 15軟件采用與ZSX軟件相同的定量分析流程條，增強了定量條件設置的可操作性。

重型和輕型掃描測角儀：可選的寬元素范圍測角儀支持無標樣半定量（FP），可用于非常規元素的定性或定量測定。

固定通道的可選背景測量 (BG)，從而改進校準擬合和卓越的精度。

自動壓力控制 (APC)

可選的自動壓力控制 (APC) 系統在光學室中保持恒定的真空度，以顯著提高輕元素分析精度。

當使用康普頓散射比法進行礦石和精礦分析時，可選的定量散射比法生成用于散射比校準的理論 alpha。

標準的 30 個固定通道配置，可以選擇升級到 40 個通道。

可選的樣品加載裝置提供來自第三方樣品制備自動化系統的傳送帶進料。